Структуроскоп предназначен для неразрушающего контроля изделий из немагнитных сплавов на основе алюминия или меди при помощи измерения их удельной электрической проводимости.
Сортировка изделий по приращению удельной электрической проводимости и контроль различных механических характеристик электропроводящих неферромагнитных материалов при наличии экспериментально установленных корреляционных связей между удельной электропроводимостью и этими характеристиками.
Отличительные особенности.
Встроенный термометр позволяет учесть влияние температуры окружающей среды и повысить точность измерения. Встроенная память сохраняет 4096 результатов измерении удельной электрической проводимости для последующей передачи на ПК.
Технические характеристики.
Диапазон измерений абсолютного значения удельной электрической проводимости, МСм/м от 5 до 60
Диапазон измерений приращений удельной электрической проводимости, МСм/м от -9,99 до +9,99
Предел допускаемой основной относительной погрешности измерений, % не более 2
Допустимый зазор между преобразователем и поверхностью контролируемого изделия, мм, не более 0,25
Индикация результатов измерений цифровая
Электропитание от батареи типа РРЗ, В 9
Потребляемая мощность, мВт, не более 40
Диапазон рабочих температур, °С 5…40
Габариты, мм 57*84*30
Масса, г 270±20
Сертификат