Назначение: Выявление дефектных и контрафактных электронных компонентов на этапе входного контроля. Сокращение расходов на устранение дефекта конечного изделия. Исключение человеческого фактора в принятии решения о качестве продукции Входной контроль согласно ГОСТ выполняется с целью выявления бракованных изделий, их изоляции и […]
Тестер микросхем FT-17DT представляет собой настольный вариант тестера FT-17HF (англ.: DT, desk top – настольный), в области контроля качества изделий микроэлектроники. Тестер микросхем FT-17DT имеет удобный эргономичный дизайн, что делает его лучшим решением для потребителей, которые занимаются сертификационными испытаниями микросхем […]
Комплексы электротермотренировки ЭТТ FTT-17 предназначены для широкого применения как в условиях серийного производства, на этапах изготовления изделий, так и на входном контроле, предприятий использующих изделия микроэлектроники, а также предприятий занимающихся сертификационными испытаниями компонентов. Комплекс электротермотренировки ЭТТ FTT-17 может использоваться при проведении […]
Микроэлектромеханические системы (МЭМС) – небольшие устройства, объединенные с полупроводниковыми приборами и сочетающие характеристики электронных схем и механических компонентов. Различные типы МЭМС требуют контроля параметров при различных физических воздействиях, воздействий температур и прочих условиях, определяющих функциональность устройства. Обычно для достижения надежной […]
Многофункциональный тестер реле FT-17R предназначен для измерения параметров электромагнитных реле постоянного и переменного тока на соответствие технических условий и требований ГОСТ 16121-86. Исполнение тестера реле — 19” стойка рабочим местом оператора. Тестер реле FT-17R имеет широкую область применения. Его можно использовать […]
Тестер полупроводниковых приборов и компонентов FT-17SC предназначен для задания и контроля электрических режимов полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, оптопар, транзисторов, MOSFET, IGBT, симисторов и др. полупроводниковых приборов) на этапе проведения их испытаний и проведения измерений электрических параметров и характеристик изделий в процессе […]
Основное назначение тестера микросхем – параметрический, динамический и функциональный контроль цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц. Основу Комплекса составляет набор универсальных плат, выполненных по технологии «тестер-на-канал». Подобная архитектура тестера микросхем позволяет получить максимум измерительных возможностей при минимальном […]
